アプリケーション
粒子堆積率をアセスメントして「粗大粒子」対策
粗大粒子による汚染現象を構成するたった2つのメカニズム「接触転移」と「沈降堆積」のうち、本機材は「沈降堆積」を常時監視する機材である。
オペレーショナルなクリーンルーム環境において、汚染粒子が“いつ”多く沈降堆積する周期にあるかをモニタリングし、その測定データから人や組織の行動・規律を改善していく。
この沈降堆積現象の背後には、エリアの表面清浄度、そこを通過した事物の表面清浄度が影響しており、環境の汚染進行速度の確認に加え、PartSensを通じて表面清浄度の改善を要する対象の特定も可能。
粒子の「持ち込み」「発塵」をAPMON/PartSensで数値化する

測定方法
不適切な「挙動」を最短5分で検出
落下粒子の粒度分布を分析・評価し、製造ラインの清浄度改善へ導く
APMONは、粒子堆積が増加する瞬間(パーティクルイベント)をリアルタイムで監視する機材です。これにより、人や組織の「不適切な活動」を検出し、その発塵量と粒度分布を数値化することができます。
このパーティクルイベントと関連付けられた活動の制御方法を検討し改善することが、5μm以上の粒子を低減させる方法としてISO14644-17で規格化されています。
- 15 ~ 30μmはヒトの皮膚片やセルロース片、100μm以上は衣服繊維などが要因と推定されます。
- 30μm以下は、気流で改善されることもありますが、製造現場への「入退出手順」や「活動制限」による改善(絶対数の削減)から優先的に取り組むことが、目標清浄度を達成する近道です。
- 50μm以上の粗大粒子が検出される場合には、「清掃を最適化」し、製造環境をキレイにする必要があります。
APMONは、空気中から落下・堆積する割合が50%以上とされる、15μm以上の粒子を検出します。
カートリッジ上に堆積した粒子は、粒径分布としてグラフ化することもできます。
測定方法
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STEP 01
作業者の往来が多い場所や常駐エリアの監視に最適な構成
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STEP 02
粒子堆積の周期傾向が確認できる程度の中期でのモニタリング(測定)開始
得られた計測データから、周期的なパーティクルイベントの発生個所を見極める
人や組織の規律や行動・挙動の妥当制御を行い、環境の洗浄度改善へ
機器構成・仕様
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付属品
・検出カートリッジ
出荷検証時使用×1個
予備×3個
・電源アダプタ
・各種ケーブル -
オプション
・ディスプレイ
・マウス
・キーボード
センサ
| モデル | APMON Ⅱ Ver.SFA |
|---|---|
| 測定原理 | レーザーホログラフィック方式 |
| 光源 | 20mAレーザーダイオード 406nM |
| レーザー安全基準 | クラス2 M(IEC60825-1準拠) |
| 計測粒径範囲 | 15 ~ 1000 µm |
| 計測粒径範囲 | 50cm2 |
| PDR測定精度 | ±6% |
| 測定間隔 | 最短4分 |
| 寸法 | W 408 × D 95 × H 135mm |
| 重量 | 約4kg |
| 電源 | ACアダプタ100 ~ 240V / 9V DC 600mA |
| バッテリ種類 | 電源駆動のみ |
検出カートリッジ
| モデル | APMON Ⅱ Ver.SFA |
|---|---|
| 材質 | 樹脂、ガラス |
| 交換頻度(目安) | 3ヵ月程度(測定環境の清浄度に依存) |
| 包装 | 管理された環境にて二重包装 |
| 交換時期 | ソフトウェアで警告 |
本体
| モデル | APMON Ⅱ Ver.SFA |
|---|---|
| センサ接続数 | 最大2台可能 |
| ワイヤレス接続 (本体↔センサ) |
有線接続のみ可 |
| データ出力 | USB(CSVデータ) |
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